Inspección por atributos: planes de muestra única, doble y múltiple, con rechazo. (Record no. 23755)

MARC details
000 -LEADER
campo de control de longitud fija 00776nam a2200205 a 4500
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 170703s1998####ag ad||f#|||||00| 0#spa#d
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL
campo de control AR-SmCIES
024 8# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código IRAM-15 dic 1973
Número estándar o código COPANT-327-1972
041 #7 - CÓDIGO DE IDIOMA
Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente es
Fuente del código ISO 639-1
091 ## - LOCALIZACIÓN DE MICROFILM EN ESTANTERÍA (AM) [OBSOLETO]
Localización de microfilm en estantería 48846
245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO
Título Inspección por atributos: planes de muestra única, doble y múltiple, con rechazo.
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC.
Lugar de publicación, distribución, etc. [s.l.] :
Nombre del editor, distribuidor, etc. IRAM, Buenos Aires
Fecha de publicación, distribución, etc. 1998.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 66 p. :
Otros detalles físicos tabla, diagr.
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Corresponde a la revisión de las eds. de abril de 1965 de IRAM 15, 16 y 17
Nota general Adopción, con su mismo título y texto, de la norma panamericana COPANT 327-1972
Nota general Apéndices: p.9-66
Holdings
Estatus retirado Estado de pérdida Fuente de la clasificación o esquema de estantería Estado de daño No para préstamo Biblioteca de origen Biblioteca actual Fecha de adquisición Número de inventario Signatura topográfica completa Código de barras Visto por última vez Precio de reemplazo Tipo de ítem Koha
    Universal Decimal Classification     Centro de Información Eduardo Savino Centro de Información Eduardo Savino 20/02/2018 48846 IRAM-15 dic 1973 48846 20/02/2018 20/02/2018 Books