Inspección por atributos: planes de muestra única, doble y múltiple, con rechazo.
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- [s.l.] : IRAM, Buenos Aires 1998.
- 66 p. : tabla, diagr.
Corresponde a la revisión de las eds. de abril de 1965 de IRAM 15, 16 y 17 Adopción, con su mismo título y texto, de la norma panamericana COPANT 327-1972 Apéndices: p.9-66
IRAM-15 dic 1973 COPANT-327-1972
Corresponde a la revisión de las eds. de abril de 1965 de IRAM 15, 16 y 17 Adopción, con su mismo título y texto, de la norma panamericana COPANT 327-1972 Apéndices: p.9-66
IRAM-15 dic 1973 COPANT-327-1972
