Computed electron micrographs and defect identification. (Record no. 22880)

MARC details
000 -LEADER
campo de control de longitud fija 00763nam a2200241 a 4500
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 170703s1973####ne ||||f#|||||00| 0#uuu#d
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL
campo de control AR-SmCIES
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 0720417570
Número Internacional Estándar del Libro 0444104623
091 ## - LOCALIZACIÓN DE MICROFILM EN ESTANTERÍA (AM) [OBSOLETO]
Localización de microfilm en estantería 26490
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Head, A. K.
245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO
Título Computed electron micrographs and defect identification.
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC.
Lugar de publicación, distribución, etc. AmsterdamNew York, N.Y. :
Nombre del editor, distribuidor, etc. NorthHollandAmerican Elsevier,
Fecha de publicación, distribución, etc. 1973.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 400 p.
490 1# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Series defects in crystalline solids, v. <7>
700 1# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL
Nombre de persona Humble, P.
Nombre de persona Clarebrough, L. M.
Nombre de persona Morton, A. J.
Nombre de persona Forwood, C. T.
830 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE SERIE-TÍTULO UNIFORME
Título uniforme Series defects in crystalline solids, v. <7>
Holdings
Estatus retirado Estado de pérdida Fuente de la clasificación o esquema de estantería Estado de daño No para préstamo Biblioteca de origen Biblioteca actual Fecha de adquisición Número de inventario Signatura topográfica completa Código de barras Visto por última vez Precio de reemplazo Tipo de ítem Koha
    Universal Decimal Classification     Centro de Información Eduardo Savino Centro de Información Eduardo Savino 20/02/2018 26490 537.533.35 H34 26490 20/02/2018 20/02/2018 Books