| 000 | 01174nam a2200301 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
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| 003 | AR-SmCIES | ||
| 041 | 7 |
_aes _2ISO 639-1 |
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| 041 | 7 |
_aes _2ISO 639-1 |
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| 080 | _a543.422.8 | ||
| 091 | _a36109 | ||
| 100 | 1 |
_aMainardi, R. _eed. |
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| 245 | 1 | 0 | _aAvances en análisis por técnicas en rayos X. |
| 260 |
_aCórdoba : _bUniversidad Nacional de Córdoba, _c1990. |
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| 300 |
_a249 p. : _btabla, diagr. |
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| 500 | _aBibliografía al final de cada artículo | ||
| 500 | _aMás info. de portada: "Con el auspicio de Philips Argentina S.A." | ||
| 650 | 4 | _aRAYOS X -ANALISIS -CONGRESOS | |
| 650 | 7 |
_aRADIACION X _2INIS |
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| 650 | 7 |
_aANALISIS POR EMISION DE RAYOS X _2INIS |
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| 650 | 7 |
_aANALISIS POR EMISION DE RAYOS X _2INIS |
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| 650 | 7 |
_aREUNIONES _2INIS |
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| 700 | 1 |
_aRiveros de la Vega, José Alberto _eed. |
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| 711 | 2 |
_aSeminario nacional de análisis por técnicas de rayos X _n7 _cLa Falda,AR _d1990 |
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| 711 | 2 |
_aSeminario latinoamericano de análisis por técnicas de rayos X _n3 _cLa Falda,AR _d1990 |
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| 999 |
_c26328 _d26328 |
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