| 000 | 00831nam a2200253 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 008 | 170703s2003####nyuad||f#|||||00| 0#eng#d | ||
| 003 | AR-SmCIES | ||
| 020 | _a9780521529778 | ||
| 020 | _a9780521822817 | ||
| 041 | 7 |
_aen _2ISO 639-1 |
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| 091 | _a50899 | ||
| 100 | 1 | _aFreund, L. Ben | |
| 245 | 1 | 0 | _aThin film materials : stress, defect formation and surface evolution. |
| 260 |
_aNew York : _bCambridge University press, _c2003. |
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| 300 |
_axviii, 750 p. : _bil., tabla, diagr. |
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| 500 | _aNotas de pie de página | ||
| 500 | _aEjercicios al final de cada capítulo | ||
| 500 | _aBibliografía: p.713-737 | ||
| 650 | 4 | _aPELICULAS DELGADAS [FISICA] | |
| 650 | 4 | _aSEMICONDUCTORES -DISPOSITIVOS | |
| 700 | 1 | _aSuresh, Subra | |
| 999 |
_c25861 _d25861 |
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