| 000 | 00670nam a2200205 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 008 | 170703s1954####nyu||||f#|||||00| 0#eng#d | ||
| 003 | AR-SmCIES | ||
| 041 | 7 |
_aen _2ISO 639-1 |
|
| 091 | _a2789 | ||
| 100 | 1 | _aKlug, Harold P. | |
| 245 | 1 | 0 | _aX-ray diffraction procedures for polycristalline and amorphous materials. |
| 260 |
_aNew York [etc] : _bJ.Wiley, _c1954. |
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| 300 | _a[xiii] 716 p. | ||
| 500 | _aApéndce: p.665-686 | ||
| 500 | _aBibliografía de pie de página y al final de cada capítulo | ||
| 650 | 4 | _aDIFRACCION DE RAYOS X | |
| 700 | 1 | _aAlexander, Leroy E. | |
| 999 |
_c24795 _d24795 |
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