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003 AR-SmCIES
024 8 _aIRAM-15 dic 1973
024 8 _aCOPANT-327-1972
041 7 _aes
_2ISO 639-1
091 _a48846
245 1 0 _aInspección por atributos: planes de muestra única, doble y múltiple, con rechazo.
260 _a[s.l.] :
_bIRAM, Buenos Aires
_c1998.
300 _a66 p. :
_btabla, diagr.
500 _aCorresponde a la revisión de las eds. de abril de 1965 de IRAM 15, 16 y 17
500 _aAdopción, con su mismo título y texto, de la norma panamericana COPANT 327-1972
500 _aApéndices: p.9-66
999 _c23755
_d23755