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003 AR-SmCIES
020 _a0306435918
041 7 _aen
_2ISO 639-1
091 _a48499
100 1 _aLyman, Charles E.
245 1 0 _aScanning electron microscopy, Xray microanalysis, and analytical electron microscopy: a laboratory workbook.
260 _aNew York and London :
_bPlenum press,
_c1990.
300 _axi, 407 p. :
_bil., tabla, diagr.
500 _aBibliografía al final de algunos capítulos
650 4 _aMICROSCOPIA ELECTRONICA -ENSEÑANZA PROGRAMADA
650 4 _aMICROSCOPIA ELECTRONICA POR BARRIDO -ENSEÑANZA PROGRAMADA
650 4 _aMICROANALISIS POR RAYOS X -ENSEÑANZA PROGRAMADA
700 1 _aGoldstein, Joseph I.
700 1 _aRomig, Alton D.
700 1 _aEchlin, Patrick
700 1 _aJoy, David C.
700 1 _aNewbury, Dale E.
700 1 _aWilliams, David B.
700 1 _aArmstrong, John T.
700 1 _aFiori, Charles E.
700 1 _aLifshin, Eric
700 1 _aPeters, Klaus Ruediger
999 _c23473
_d23473