000 00857nam a2200301 a 4500
003 AR-SmCIES
005 20250805141203.0
008 170703t1985####xxua|||f#|||||00| 0#eng#d
020 _a0895731436
020 _a3527261923
040 _cAR-SmCIES
041 7 _aen
_2ISO 639-1
080 _a543.25
091 _a34510
100 1 _aWang, Joseph
_910785
245 1 0 _aStripping analysis : principles, instrumentation and applications.
260 _aDeerfield Beach, Fla. :
_bVCH,
_cc1985.
300 _a160 p. :
_bil. ; 24 cm.
500 _aBibliografía: p. 147-57
650 4 _aQUÍMICA
_2INIST
_9263
650 4 _aELECTRODOS
_2INIST
_92549
650 4 _aÁNODOS
_2INIST
_910786
650 4 _aCÁTODOS
_2INIST
_910787
650 4 _aDESPRENDIMIENTO DE ELECTRONES
_2INIST
_910788
942 _2udc
_cBK
999 _c14992
_d14992