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1.	Imagen de Amazon.com Imagen de OpenLibrary	Electron beam interactions with solids for microscopy, microanalysis and microlithography. por Kyser, David F [ed.] Conference on electron beam interactions with solids for microscopy, microanalysis and microlithography 1. Monterey, Calif,US 1982 Pfefferkorn conference 1. Monterey, Calif,US 1982 Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Detalles de publicación: AMF O'Hare, Il. : Scanning electron microscopy, c1984 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (1)Signatura topográfica: 539.2: 539.12.04 C76 1982. Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
2.	Imagen de Amazon.com Imagen de OpenLibrary	Principles of analytical electron microscopy. por Joy, David C [ed.] Romig, Alton D [ed.] Goldstein, Joseph I [ed.] Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Detalles de publicación: New York and London : Plenum Press, 1986 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (1)Signatura topográfica: 537.533.35 J841. Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
3.	Imagen de Amazon.com Imagen de OpenLibrary	Transmission electron microscopy: a textbook for materials science. Basics. por Williams, David Bernard Carter, C. Barry Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Detalles de publicación: New York and London : Plenum Press, 1996 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (8)Signatura topográfica: 537.533.35 W671, ... Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
4.	Imagen de OpenLibrary	Techniques for electron microscopy. por Kay, Desmond H [ed.] Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Detalles de publicación: Oxford : Blackwell scientific publ., 1965 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (4)Signatura topográfica: 537.533.35 K18, ... Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
5.	Imagen de Amazon.com Imagen de OpenLibrary	Practical scanning electron microscopy: electron and ion microprobe analysis. por Yakowitz, Harvey [Ed.] Goldstein, Joseph [Ed.] Newbury, Dale E Lifshin, E Colby, J. W Coleman, J. R Edición: 3a ed. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: Idioma: en Detalles de publicación: New York and London : Plenum press, 1977 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (2)Signatura topográfica: 537.533.35 G578 ej.2, ... Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
6.	Imagen de OpenLibrary	Electron microscopy of thin crystals. por Hirsch, Peter Bernhard [y otros] Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Detalles de publicación: London : Butterworths, 1965 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (3)Signatura topográfica: 537.533.35 H615, ... Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
7.	Imagen de OpenLibrary	Introduction to analytical electron microscopy. por Hren, John [Ed.] Goldstein, Joseph [Ed.] Joy, David C [Ed.] Workshop on analytical electron microscopy San Antonio, Tex.,US 1979 Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: Detalles de publicación: New York: Plenum press, 1979 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (2)Signatura topográfica: 537.533.35 H857 ej.2, ... Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
8.	Imagen de OpenLibrary	Transmission electron microscopy of materials. por Thomas, Gareth Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Detalles de publicación: [s.l.] : [s.n.], 1979 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (1)Signatura topográfica: 537.533.35 T363t. Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
9.	Imagen de OpenLibrary	X-ray optics and microanalysis. por Beaman, D. R. et al [ed] Microbean analysis society International congress on x-ray optics and microanalysis 8 Boston, Mass.,US 1977 Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Detalles de publicación: Midland : Pendell publ., 1980 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (1)Signatura topográfica: 537.533.35 In8 1977. Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
10.	Imagen de OpenLibrary	Cours de l'ecole de microscopie électronique en science des materiaux. por Bernard, Jouffrey [ed.] Centre national de la recherche scientifique. Centre regional de publications de Toulouse Ecole d'été de microscopie électronique en science des matériaux Ecole d'été de microscopie électronique en science des matériaux Bombannes,FR 1981 Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: fr Detalles de publicación: Paris : CNRS, 1983 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (3)Signatura topográfica: 537.533.35 [075.8] Ec73 1981, ... Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
11.	Imagen de OpenLibrary	The use of the scanning electron microscope. por Hearle, John William Stanley [and others] Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Detalles de publicación: Oxford : Pergamon press, 1972 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (2)Signatura topográfica: 537.533.35 H351, ... Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
12.	Imagen de OpenLibrary	Microanalyse et microscopie electronique a balayage. por Ecole d'eté sur la microanalyse et microscopie electronique a balayage Saint-Martin-d'Heres,FR 1978 Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: fr Detalles de publicación: Orsay : Editions de physique, 1979 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (1)Signatura topográfica: 621.358.833 (075.8) Ec73 1978. Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
13.	Imagen de OpenLibrary	Atlas microfractographiques des fontes. por Henry, Guy Lucien Marius Margerie, Jean-Claude Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: fr Detalles de publicación: Paris : Eds. techniques des industries de la fonderie, 1974 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (2)Signatura topográfica: 539.42 H396 v.1, ... Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
14.	Imagen de Amazon.com Imagen de OpenLibrary	Scanning electron microscopy and Xray microanalysis: a text for biologists, materials scientists, and geologists. por Goldstein, Joseph I Newbury, Dale E Echlin, Patrick Joy, David C Fiori, Charles E Lifshin, Eric Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Detalles de publicación: New York : Plenum Press, 1981 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (1)Signatura topográfica: 537.533.35 G578s. Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
15.	Imagen de OpenLibrary	Handbuch der mikrochemischen Methoden por Hecht, Friedrich Zacherl, Michael K Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: de Detalles de publicación: Wien: Springer, 1966 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (1)Signatura topográfica: 543.063 H355 v.4 ej.2. Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
16.	Imagen de Amazon.com Imagen de OpenLibrary	Scanning electron microscopy and Xray microanalysis: a text for biologists, materials scientists, and geologists. por Goldstein, Joseph I Newbury, Dale E Echlin, Patrick Joy, David C Romig, Alton D Lyman, Charles E Fiori, Charles E Lifshin, Eric Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Detalles de publicación: New York and London : Plenum press, 1992 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (3)Signatura topográfica: 537.533.35 G578s, ... Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
17.	Imagen de OpenLibrary	The electron microprobe. por McKinley, Theodore David [ed] Symposium on the electron microprobe Washington,US 1964 Series The electrochemical society series Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Detalles de publicación: New York : J. Wiley and sons inc., 1966 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (1)Signatura topográfica: 537.533.35 M215 1964. Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
18.	Imagen de OpenLibrary	Methodes d'analyse et de caracterisation des couches minces : [comptes rendus]. por Seminaire sur les methodes d'analyse et de caracterisation des couches minces Bourg Saint Maurice,FR 1978 Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: fr Detalles de publicación: Paris : Société française du vide, 1978 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (2)Signatura topográfica: 539.23 Se52 1978, ... Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
19.	Imagen de Amazon.com Imagen de OpenLibrary	Electron microbeam analysis por Boekestein, Abraham [ed.] Pavicevic, Miograd K [ed.] Workshop on modern developments and applications in microbeam analysis 2 Dubrovnik,YU 1991 Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Idioma: en Detalles de publicación: Wien, New York: Springer, 1992 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (1)Signatura topográfica: 543.063 B633 . Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
20.	Imagen de Amazon.com Imagen de OpenLibrary	Handbook of thinfilm deposition processes and techniques: principles, methods, equipment and applications. por Schuegraf, Klaus K [ed.] Series Materials science and process technology series Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Detalles de publicación: Westwood, N.J. : Noyes publ., 1988 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (1)Signatura topográfica: 539.23 Sch79. Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
21.	Imagen de Amazon.com Imagen de OpenLibrary	Raman microscopy: developments and applications. por Turrel, George [ed.] Corset, Jacques [ed.] Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Detalles de publicación: London : Academic press, 1996 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (1)Signatura topográfica: 537.533.35 T866. Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
22.	Imagen de Amazon.com Imagen de OpenLibrary	Signal transduction single cell techniques. por Duijn, Bert van [ed.] Wiltink, Anneke [ed.] Series Springer lab manual Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Detalles de publicación: Berlin : Springer, 1998 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (1)Signatura topográfica: 576.3.08 [076.6] D883. Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
23.	Imagen de Amazon.com Imagen de OpenLibrary	Scanning electron microscopy, Xray microanalysis, and analytical electron microscopy: a laboratory workbook. por Lyman, Charles E Goldstein, Joseph I Romig, Alton D Echlin, Patrick Joy, David C Newbury, Dale E Williams, David B Armstrong, John T Fiori, Charles E Lifshin, Eric Peters, Klaus Ruediger Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Detalles de publicación: New York and London : Plenum press, 1990 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (3)Signatura topográfica: 537.533.35 [076.6] L989, ... Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
24.	Imagen de Amazon.com Imagen de OpenLibrary	Microbeam and nanobeam analysis. por Benoit, Daniele [ed.] Bresse, Jean Francois [ed.] Van't dack, Luc [ed.] Werner, Helmut [ed.] Wernisch, Johann [ed.] Workshop on modern developments and applications in microbeam analysis 4 Saint Malo,FR 1995 Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Idioma: en Detalles de publicación: Wien, New York : Springer, 1996 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (1)Signatura topográfica: 537.533.35 B44 1995. Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
25.	Imagen de OpenLibrary	Quantitative electron microscopy. por Bahr, Gunter F [ed.] Zeitler, Elmar H [ed.] Symposium on quantitative electron microscopy Washington,US 1964 Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Detalles de publicación: Baltimore Md. : Williams and Wilkins, 1965 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (1)Signatura topográfica: 537.533.35 Sy68 1964. Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
26.	Imagen de Amazon.com Imagen de OpenLibrary	PRACTICAL methods in electron microscopy. por Glauert, Audrey M [ed.] Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: en Detalles de publicación: AmsterdamLondon : NorthHolland, 1972 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (10)Signatura topográfica: 537.533.35 P881 v.1, ... Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
27.	Imagen de Amazon.com Imagen de OpenLibrary	Optique de Fourier en microscopie électronique por Lannes, André Pérez, José Philippe Tipo de material: Texto; Formato: braille ; Forma literaria: ; Audiencia: Especializado; Idioma: fr Detalles de publicación: Paris: Masson, 1983 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (1)Signatura topográfica: 517.443 L283. Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
28.	Imagen de Amazon.com Imagen de OpenLibrary	Materials characterization using nondestructive evaluation (NDE) methods / edited by Gerhard Hübschen [et al.] por Hübschen, Gerhard [ed.] Altpeter, Iris Tschuncky, Ralf Herrmann, Hans-Georg Series Woodhead Publishing series in electronic and optical materials ; no. 88. Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Idioma: Inglés Editor: Amsterdam ; Boston : Elsevier/Woodhead Publishing, c2016 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (1)Signatura topográfica: 620.179.1 M425. Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
29.	Imagen de OpenLibrary	Caracterización de los precipitados presentes en un acero ASTM A335 Gr P91 soldado por el proceso FCAW. por Marzocca, Ana Lucía Comisión Nacional de Energía Atómica. Instituto de Tecnología Sabato Universidad Nacional de San Martín Tipo de material: Archivo de ordenador; Formato: electrónico Detalles de publicación: 2014 Nota de disertación: Tesis para optar al título de Magister en Ciencia y Tecnología de Materiales. Director/es: Zalazar, Mónica; Luppo , María Inés Otro título: Characterization of precipitates in weldments performed in an ASTM A533 GR P91 steel by the FCAW process. Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: Centro de Información Eduardo Savino: No se presta (1)Signatura topográfica: IS/T--146/14. Guardar en listas Agregar al carrito (remover)
30.	Imagen de OpenLibrary	Fundamentals of transmission electron microscopy. por Heidenreich, Robert D Series Interscience monographs and texts in physics and astronomy ; v. 13. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: New York : Interscience Publishers, 1964 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Centro de Información Eduardo Savino (2)Signatura topográfica: 537.533.35 H362, ... Hacer reserva Guardar en listas Agregar al carrito (remover)

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