Tolansky, Samuel. [from old catalog] <br/><br/>
Multiple-beam interferometry of surfaces and films.  

 - Oxford :  Clarendon Press,  1948. 
 - viii, 187 p.  23 cm. 
<br/><br/>índice y bibliografía al final del volúmen. 
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>535.417