Freund, L. Ben <br/><br/>
Thin film materials : stress, defect formation and surface evolution. 

 - New York :  Cambridge University press,  2003. 
 - xviii, 750 p. :  il., tabla, diagr. 
<br/><br/> Notas de pie de página  Ejercicios al final de cada capítulo  Bibliografía: p.713-737 
<br/><br/><label>ISBN: </label>9780521529778 9780521822817 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>PELICULAS DELGADAS [FISICA]<br/>SEMICONDUCTORES -DISPOSITIVOS