Inspección por atributos: planes de muestra única, doble y múltiple, con rechazo. 

 - [s.l.] :  IRAM, Buenos Aires  1998. 
 - 66 p. :  tabla, diagr. 
<br/><br/> Corresponde a la revisión de las eds. de abril de 1965 de IRAM 15, 16 y 17  Adopción, con su mismo título y texto, de la norma panamericana COPANT 327-1972  Apéndices: p.9-66 
<br/><br/><label>Standard No.: </label>IRAM-15 dic 1973 COPANT-327-1972