TY  - BOOK
AU  - Zevin,Lev S.
AU  - Kimmel,Giora
AU  - Mureinik,Inez
TI  - Quantitative Xray diffractometry
SN  - 0387945415
PY  - 1995///
CY  - New York
PB  - Springer
KW  - DIFRACCION DE RAYOS X
KW  - DIFRACCION DE RAYOS X -APLICACIONES INDUSTRIALES
KW  - RAYOS X -ANALISIS
KW  - ANALISIS CUANTITATIVO
N1  - Bibliografía: p.355-364
ER  -