Quantitative Xray diffractometry. - Zevin, Lev S.; Kimmel, Giora; Mureinik, Inez (New York : Springer, 1995)
Bibliografía: p.355-364
Keywords: DIFRACCION DE RAYOS X; DIFRACCION DE RAYOS X -APLICACIONES INDUSTRIALES; RAYOS X -ANALISIS; ANALISIS CUANTITATIVO