Zevin, Lev S. <br/><br/>
Quantitative Xray diffractometry. 

 - New York :  Springer,  1995. 
 - xvii, 372 p. :  tabla, diagr. 
<br/><br/> Bibliografía: p.355-364 
<br/><br/><label>ISBN: </label>0387945415 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>DIFRACCION DE RAYOS X<br/>DIFRACCION DE RAYOS X -APLICACIONES INDUSTRIALES<br/>RAYOS X -ANALISIS<br/>ANALISIS CUANTITATIVO