TY  - BOOK
AU  - Benoit,Daniele
AU  - Bresse,Jean Francois
AU  - Van't dack,Luc
AU  - Werner,Helmut
AU  - Wernisch,Johann
ED  - Workshop on modern developments and applications in microbeam analysis
TI  - Microbeam and nanobeam analysis
SN  - 3211828745
SN  - 00263672
PY  - 1996///
CY  - Wien, New York
PB  - Springer
KW  - MICROSCOPIA ELECTRONICA -CONGRESOS
KW  - METALES -MICROANALISIS -CONGRESOS
N1  - "Mikrochimica Acta, Supplement 13"; Bibliografía al final de cada artículo
ER  -