ADVANCES in X-ray analysis. 

 - New YorkLondon :  Plenum pressI. Pitman and sons, ltd.,  1960-. 
 - v. :  il., tabla, diagr.  ;  23,5-25,5 cm. 
 - Mueller, William Martin  ed. .
<br/><br/> Bibliografía al final de cada artículo 
<br/><br/><label>ISSN: </label>0069-8490 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>RAYOS X -ANALISIS
<br/><br/><label>Universal Decimal Class. No.: </label>543.422.8