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  • International Symposium on X-ray Optics and X-ray Microanalysis

Entry Nombre de reunión

Number of records used in: 1

001 - NÚMERO DE CONTROL

  • campo de control: 9501

003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL

  • campo de control: AR-SmCIES

005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN

  • campo de control: 20241114094813.0

008 - ELEMENTOS DE DATO DE LONGITUD-FIJA

  • campo de control de longitud fija: 241114|| aca||aabn | a|a d

040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN

  • Centro catalogador/agencia de origen: AR-SmCIES
  • Centro/agencia transcriptor: AR-SmCIES

111 ## - ENCABEZAMIENTO--NOMBRE DE CONGRESO/REUNIÓN

  • Nombre de congreso/reunión o jurisdicción como elemento de entrada: International Symposium on X-ray Optics and X-ray Microanalysis
  • Número del congreso/reunión o número de parte o sección: (4th :
  • Fecha del congreso o de la firma del tratado: 1965 :
  • Sede del congreso/Lugar de la reunión: Orsay, France)

670 ## - FUENTE DE DATOS ENCONTRADOS

  • Cita de la fuente: Work cat.: (AR-SmCIES)0: International Symposium on X-ray Optics and X-ray Microanalysis (4th : 1965 : Orsay, France), Optique des rayons X et microanalyse,, 1966.