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  • 2nd International Symposium X-Ray Microscopy and X-Ray Microanalysis

Entry Nombre de reunión

Number of records used in: 1

001 - NÚMERO DE CONTROL

  • campo de control: 6733

003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL

  • campo de control: AR-SmCIES

005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN

  • campo de control: 20240205151925.0

008 - ELEMENTOS DE DATO DE LONGITUD-FIJA

  • campo de control de longitud fija: 240205|| aca||aabn | a|a d

040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN

  • Centro catalogador/agencia de origen: AR-SmCIES
  • Centro/agencia transcriptor: AR-SmCIES

111 ## - ENCABEZAMIENTO--NOMBRE DE CONGRESO/REUNIÓN

  • Nombre de congreso/reunión o jurisdicción como elemento de entrada: 2nd International Symposium X-Ray Microscopy and X-Ray Microanalysis
  • Sede del congreso/Lugar de la reunión: stockholm, England
  • Fecha del congreso o de la firma del tratado: jan, 1960

670 ## - FUENTE DE DATOS ENCONTRADOS

  • Cita de la fuente: Work cat.: (AR-SmCIES)21879: 2nd International Symposium X-Ray Microscopy and X-Ray Microanalysis stockholm, England jan, 1960, X-ray microscopy and X-ray microanalysis, 1960.