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  • REFLEJOS DIFUSOS DE RAYOS X

Entry Término temático

Number of records used in: 1

001 - NÚMERO DE CONTROL

  • campo de control: 4821

003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL

  • campo de control: AR-SmCIES

005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN

  • campo de control: 20230317113748.0

008 - ELEMENTOS DE DATO DE LONGITUD-FIJA

  • campo de control de longitud fija: 230317|| aca||aabn | a|a d

040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN

  • Centro catalogador/agencia de origen: AR-SmCIES
  • Centro/agencia transcriptor: AR-SmCIES

150 ## - ENCABEZAMIENTO--TÉRMINO DE MATERIA

  • Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada: REFLEJOS DIFUSOS DE RAYOS X

670 ## - FUENTE DE DATOS ENCONTRADOS

  • Cita de la fuente: Work cat.: (AR-SmCIES)0: Winter School on Advanced Methods of Crystallography (1963 : Madras, India) 4818, Advanced methods of crystallography., [c1964]