Normal view MARC view
  • International Conference on Electron and Ion Beam Science and Technology.

Entry Nombre de reunión

Number of records used in: 1

001 - NÚMERO DE CONTROL

  • campo de control: 3315

003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL

  • campo de control: AR-SmCIES

005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN

  • campo de control: 20191227120538.0

008 - ELEMENTOS DE DATO DE LONGITUD-FIJA

  • campo de control de longitud fija: 191227|| aca||aabn | a|a d

040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN

  • Centro catalogador/agencia de origen: AR-SmCIES
  • Centro/agencia transcriptor: AR-SmCIES

111 ## - ENCABEZAMIENTO--NOMBRE DE CONGRESO/REUNIÓN

  • Nombre de congreso/reunión o jurisdicción como elemento de entrada: International Conference on Electron and Ion Beam Science and Technology.
  • Sede del congreso/Lugar de la reunión: New York)
  • Fecha del congreso o de la firma del tratado: 1970 :
  • Unidad subordinada: (4th :

670 ## - FUENTE DE DATOS ENCONTRADOS

  • Cita de la fuente: Work cat.: (AR-SmCIES)0: International Conference on Electron and Ion Beam Science and Technology. New York) 1970 : (4th :, Electron and ion beam science and technology;, 1970.