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  • Conference on Industrial Applications of X-Ray Analysis

Entry Nombre de reunión

Number of records used in: 1

001 - NÚMERO DE CONTROL

  • campo de control: 10932

003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL

  • campo de control: AR-SmCIES

005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN

  • campo de control: 20250825131625.0

008 - ELEMENTOS DE DATO DE LONGITUD-FIJA

  • campo de control de longitud fija: 250825|| aca||aabn | a|a d

040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN

  • Centro catalogador/agencia de origen: AR-SmCIES
  • Centro/agencia transcriptor: AR-SmCIES

111 ## - ENCABEZAMIENTO--NOMBRE DE CONGRESO/REUNIÓN

  • Nombre de congreso/reunión o jurisdicción como elemento de entrada: Conference on Industrial Applications of X-Ray Analysis

670 ## - FUENTE DE DATOS ENCONTRADOS

  • Cita de la fuente: Work cat.: (AR-SmCIES)15082: Conference on Applications of X-Ray Analysis 6- Denver, Colo,US, 1957- 10925, ADVANCES in X-ray analysis., 1960