Defect analysis in elctron microscopy (Record no. 33122)
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000 -LEADER | |
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campo de control de longitud fija | 00970nam a22002897a 4500 |
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | AR-SmCIES |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
campo de control | 20221104152823.0 |
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | 221104t1975 engdoa||r|||| 00| 0 eng d |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
Número Internacional Estándar del Libro | 0412137607 |
040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN | |
Centro/agencia transcriptor | AR-SmCIES |
100 10 - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Loretto, M. H. |
9 (RLIN) | 4369 |
245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO | |
Título | Defect analysis in elctron microscopy |
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. | |
Lugar de publicación, distribución, etc. | Londres: |
Nombre del editor, distribuidor, etc. | Chapman and Hall, |
Fecha de publicación, distribución, etc. | 1975. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | ix, 134 p.: |
Otros detalles físicos | graf., il., fot.; |
650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 3457 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | MICROSCOPIA ELECTRONICA |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 3456 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | ELECTRON MICROSCOPY |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 61 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | DEFECTOS |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 4354 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | DIFRACCION ELECTRONICA |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 1166 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | DEFECTOS CRISTALINOS |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY |
9 (RLIN) | 4370 |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | MICROSCOPIA ELECTRONICA POR TRANSMISION |
9 (RLIN) | 4371 |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 3980 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | DISLOCATIONS |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 3946 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | KIKUCHI LINES |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | LINEAS DE KIKUCHI |
9 (RLIN) | 4372 |
700 ## - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL | |
Nombre de persona | Smallman, R. E. |
9 (RLIN) | 4373 |
942 ## - ELEMENTOS DE ENTRADA SECUNDARIOS (KOHA) | |
Fuente de la clasificación o esquema de estantería | Universal Decimal Classification |
Tipo de ítem Koha | Books |
Estatus retirado | Estado de pérdida | Fuente de la clasificación o esquema de estantería | Estado de daño | No para préstamo | Biblioteca de origen | Biblioteca actual | Fecha de adquisición | Número de inventario | Signatura topográfica completa | Código de barras | Visto por última vez | Precio de reemplazo | Tipo de ítem Koha |
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Universal Decimal Classification | Centro de Información Eduardo Savino | Centro de Información Eduardo Savino | 04/11/2022 | 24431 | 548.4 L869 | 24431 | 04/11/2022 | 04/11/2022 | Books |