Diffraction and imaginig techniques in material science (Record no. 33118)
000 -LEADER | |
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campo de control de longitud fija | 01055nam a22003017a 4500 |
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | AR-SmCIES |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
campo de control | 20221028160319.0 |
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | 221028t19781970engod|||r|||| 00| 0 eng d |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
Número Internacional Estándar del Libro | 0444851291 |
040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN | |
Centro/agencia transcriptor | AR-SmCIES |
245 ## - MENCIÓN DEL TÍTULO | |
Título | Diffraction and imaginig techniques in material science |
250 ## - MENCION DE EDICION | |
Mención de edición | 2a ed |
Resto de la mención de edición | rev. |
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. | |
Lugar de publicación, distribución, etc. | Amsterdam: |
Nombre del editor, distribuidor, etc. | North-Holland, |
Fecha de publicación, distribución, etc. | 1978. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | vol II, ix, 457-847 p.: |
Otros detalles físicos | fot., graf.; |
650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 3457 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | MICROSCOPIA ELECTRONICA |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 3456 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | ELECTRON MICROSCOPY |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | LOW ENERGY ELECTRON DIFFRACTION |
9 (RLIN) | 4360 |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | DIFRACCION DE ELECTRONES DE BAJA ENERGIA |
9 (RLIN) | 4361 |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 74 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | DIFRACCION DE RAYOS X |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 2904 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | X-RAY DIFFRACTION |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | FIELD EMISSION MICROSCOPY |
9 (RLIN) | 4362 |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | MICROSCOPIA DE EMISION DE CAMPO |
9 (RLIN) | 4363 |
653 ## - TÉRMINO DE INDIZACIÓN--NO CONTROLADO | |
Término no controlado | MIRROR ELECTRON MICROSCOPY |
700 ## - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL | |
9 (RLIN) | 4357 |
Nombre de persona | Amelinckx, S. |
Término indicativo de función/relación | Ed. |
9 (RLIN) | 4358 |
Nombre de persona | Gevers, R. |
Término indicativo de función/relación | Ed. |
9 (RLIN) | 4359 |
Nombre de persona | Van Landuyt, J. |
Término indicativo de función/relación | Ed. |
942 ## - ELEMENTOS DE ENTRADA SECUNDARIOS (KOHA) | |
Fuente de la clasificación o esquema de estantería | Universal Decimal Classification |
Tipo de ítem Koha | Books |
Estatus retirado | Estado de pérdida | Fuente de la clasificación o esquema de estantería | Estado de daño | No para préstamo | Biblioteca de origen | Biblioteca actual | Fecha de adquisición | Número de inventario | Signatura topográfica completa | Código de barras | Visto por última vez | Precio de reemplazo | Tipo de ítem Koha |
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Universal Decimal Classification | Centro de Información Eduardo Savino | Centro de Información Eduardo Savino | 28/10/2022 | 26689 | 537.533.73 Am32 vol II | 26689 | 28/10/2022 | 28/10/2022 | Books |