Symposium on light microscopy; (Record no. 32788)
000 -LEADER | |
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campo de control de longitud fija | 01088cam a22002891 4500 |
001 - NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | 8385981 |
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | AR-SmCIES |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
campo de control | 20230302154325.0 |
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | 770609s1953 nyuad r 000 0 eng d |
010 ## - NÚMERO DE CONTROL DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
Número de control de LC | 54000947 |
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA | |
Número de control de sistema | (OCoLC)3027349 |
040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN | |
Centro catalogador/agencia de origen | DLC |
Centro/agencia transcriptor | GAT |
Centro/agencia modificador | OCoLC |
-- | DLC |
042 ## - CÓDIGO DE AUTENTICACIÓN | |
Código de autenticación | premarc |
050 00 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO | |
Número de clasificación | TA406.5 |
Número de ítem | .A47 1952 |
110 2# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | American Society for Testing Materials. |
9 (RLIN) | 2969 |
245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO | |
Título | Symposium on light microscopy; |
Resto del título | presented at the fifty-fifth annual meeting (fiftieth anniversary meeting) American Society for Testing Materials, New York, N. Y., June 25, 1952. |
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. | |
Lugar de publicación, distribución, etc. | Philadelphia : |
Fecha de publicación, distribución, etc. | [1953] |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | 126 p. |
Otros detalles físicos | il. |
Dimensiones | 23 cm. |
490 1# - MENCIÓN DE SERIE | |
Mención de serie | Its Special technical publication |
Designación de volumen o secuencia | no. 143 |
500 ## - NOTA GENERAL | |
Nota general | "Committee E-1 on Methods of Testing sponsored the symposium." |
504 ## - NOTA DE BIBLIOGRAFÍA, ETC. | |
Nota de bibliografía, etc. Nota | bibliografía al final del volúmen. |
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | Microscopy. |
9 (RLIN) | 2970 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | MICROSCOP� A |
9 (RLIN) | 2971 |
740 0# - ENTRADA AGREGADA--TÍTULO RELACIONADO/ANALÍTICO NO CONTROLADO | |
Título relacionado o analítico no controlado | Light microscopy. |
810 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE SERIE--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | American Society for Testing Materials. |
Título de la obra | Special technical publication |
Designación de volumen o secuencia | no. 143. |
9 (RLIN) | 2972 |
942 ## - ELEMENTOS DE ENTRADA SECUNDARIOS (KOHA) | |
Fuente de la clasificación o esquema de estantería | Dewey Decimal Classification |
Tipo de ítem Koha | Books |
Estatus retirado | Estado de pérdida | Fuente de la clasificación o esquema de estantería | Estado de daño | No para préstamo | Biblioteca de origen | Biblioteca actual | Fecha de adquisición | Número de inventario | Signatura topográfica completa | Código de barras | Visto por última vez | Precio de reemplazo | Tipo de ítem Koha |
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Dewey Decimal Classification | Centro de Información Eduardo Savino | Centro de Información Eduardo Savino | 05/09/2019 | 7195 | RG 061.3: 535.82 Sy68 | 7195 | 05/09/2019 | 05/09/2019 | Books |