Characterization in compound semiconductor processing / (Record no. 26446)

MARC details
000 -LEADER
campo de control de longitud fija nam a22 7a 4500
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL
campo de control AR-SmCIES
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20180409145606.0
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 180409b xxu||||| |||| 001 0 eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9781606500415
100 ## - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Strausser, Yale
Término indicativo de función/relación ed.
9 (RLIN) 36
245 ## - MENCIÓN DEL TÍTULO
Título Characterization in compound semiconductor processing /
Mención de responsabilidad, etc. Yale Strausser and Gary E. McGuire
260 3# - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC.
Lugar de publicación, distribución, etc. New York :
Nombre del editor, distribuidor, etc. Momentum Press,
Fecha de publicación, distribución, etc. 2010
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 199 p.
440 ## - MENCIÓN DE SERIE/PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--TÍTULO
Título Material characterization series
9 (RLIN) 37
942 ## - ELEMENTOS DE ENTRADA SECUNDARIOS (KOHA)
Fuente de la clasificación o esquema de estantería Universal Decimal Classification
Tipo de ítem Koha Books
Holdings
Estatus retirado Estado de pérdida Fuente de la clasificación o esquema de estantería Estado de daño No para préstamo Biblioteca de origen Biblioteca actual Ubicación en estantería Fecha de adquisición Fuente de adquisición Número de inventario Total de préstamos Total de renovaciones Signatura topográfica completa Código de barras Visto por última vez Fecha del último préstamo Precio de reemplazo Tipo de ítem Koha
    Dewey Decimal Classification     Centro de Información Eduardo Savino Centro de Información Eduardo Savino Revistero 09/04/2018 Compra 51389 3 1 621.315.59: 66.017 St912 51389 05/03/2024 07/02/2024 09/04/2018 Books