Electron microbeam analysis (Record no. 23266)
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000 -LEADER | |
---|---|
campo de control de longitud fija | 01172nam a2200337 a 4500 |
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | AR-SmCIES |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
campo de control | 20241114103431.0 |
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | 170703s1992####au a|||f#|||||00| 0#eng#d |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
Número Internacional Estándar del Libro | 038782359X |
Número Internacional Estándar del Libro | 321182359X |
022 ## - NÚMERO INTERNACIONAL NORMALIZADO PARA PUBLICACIONES SERIADAS | |
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas | 00263672 |
041 #7 - CÓDIGO DE IDIOMA | |
Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente | en |
Fuente del código | ISO 639-1 |
Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente | en |
Fuente del código | ISO 639-1 |
091 ## - LOCALIZACIÓN DE MICROFILM EN ESTANTERÍA (AM) [OBSOLETO] | |
Localización de microfilm en estantería | 31 4 5 160 ITJS |
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Boekestein, Abraham |
Término indicativo de función/relación | ed. |
9 (RLIN) | 9507 |
245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO | |
Título | Electron microbeam analysis |
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. | |
Lugar de publicación, distribución, etc. | Wien, New York: |
Nombre del editor, distribuidor, etc. | Springer, |
Fecha de publicación, distribución, etc. | 1992 |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | ix, 278 p.: |
Otros detalles físicos | ilustraciones, gráficos; |
500 ## - NOTA GENERAL | |
Nota general | Suplemento no.12 de la revista "Mikrochimica Acta" conteniendo actas de congreso |
Nota general | Bibliografía al final de cada artículo |
650 #4 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | ANÁLISIS (ACTIVACIÓN) |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 9497 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | MATERIALES |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 9508 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | ANALIZADORES DE HACES |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 9509 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | MICROSCOPIA ELECTRÓNICA |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 3457 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | ESPECTROSCOPIA |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 3095 |
700 1# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL | |
Nombre de persona | Pavicevic, Miograd K. |
Término indicativo de función/relación | ed. |
9 (RLIN) | 9510 |
711 2# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE DE REUNIÓN | |
Nombre de congreso/reunión o jurisdicción como elemento de entrada | Workshop on modern developments and applications in microbeam analysis |
Número del congreso/reunión o número de parte o sección | 2 |
Sede del congreso/Lugar de la reunión | Dubrovnik,YU |
Fecha del congreso o de la firma del tratado | 1991 |
9 (RLIN) | 9511 |
942 ## - ELEMENTOS DE ENTRADA SECUNDARIOS (KOHA) | |
Fuente de la clasificación o esquema de estantería | Universal Decimal Classification |
Tipo de ítem Koha | Sabato Institute Collection |
Estatus retirado | Estado de pérdida | Fuente de la clasificación o esquema de estantería | Estado de daño | No para préstamo | Biblioteca de origen | Biblioteca actual | Fecha de adquisición | Número de inventario | Signatura topográfica completa | Código de barras | Visto por última vez | Precio de reemplazo | Tipo de ítem Koha |
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Universal Decimal Classification | Centro de Información Eduardo Savino | Centro de Información Eduardo Savino | 20/02/2018 | 31 4 5 160 ITJS | 543.063 B633 | 31 4 5 160 ITJS | 20/02/2018 | 20/02/2018 | Sabato Institute Collection |