Fifty years of x-ray diffraction. (Record no. 22861)
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| 000 -LEADER | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 00473nam a2200145 a 4500 |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 170703s1962####ne ||||f#|||||00| 0#uuu#d |
| 003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | AR-SmCIES |
| 091 ## - LOCALIZACIÓN DE MICROFILM EN ESTANTERÍA (AM) [OBSOLETO] | |
| Localización de microfilm en estantería | 12690 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Ewald, P. P. |
| Término indicativo de función/relación | ed. |
| 245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO | |
| Título | Fifty years of x-ray diffraction. |
| 260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. | |
| Lugar de publicación, distribución, etc. | Utrecht : |
| Nombre del editor, distribuidor, etc. | International Union of CrystallographyN.V.A. Oosthoek's Uitgeversmaatschappij, |
| Fecha de publicación, distribución, etc. | 1962. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | 733 p. |
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