Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis. (Record no. 22297)

MARC details
000 -LEADER
campo de control de longitud fija 00503nam a2200157 a 4500
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 170703t1975#### ||||f#|||||00| 0#uuu#d
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL
campo de control AR-SmCIES
091 ## - LOCALIZACIÓN DE MICROFILM EN ESTANTERÍA (AM) [OBSOLETO]
Localización de microfilm en estantería 618 PMM
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Siegel, Benjamin M.
Término indicativo de función/relación ed.
245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO
Título Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis.
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC.
Lugar de publicación, distribución, etc. [s.l.] :
Nombre del editor, distribuidor, etc. [s.n.],
Fecha de publicación, distribución, etc. c1975.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 474 p.
700 1# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL
Nombre de persona Beaman, Donald R.
Holdings
Estatus retirado Estado de pérdida Fuente de la clasificación o esquema de estantería Estado de daño No para préstamo Biblioteca de origen Biblioteca actual Fecha de adquisición Número de inventario Signatura topográfica completa Código de barras Visto por última vez Precio de reemplazo Tipo de ítem Koha
    Universal Decimal Classification     Centro de Información Eduardo Savino Centro de Información Eduardo Savino 20/02/2018 618 PMM 621.385.833.2: 535.3 S4 618 PMM 20/02/2018 20/02/2018 Books