X-ray methods in the study of defects in single crystals. (Record no. 22288)

MARC details
000 -LEADER
campo de control de longitud fija 00704nam a2200217 a 4500
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 170703s1967#### uk||||f#|||||00| 0#eng#d
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL
campo de control AR-SmCIES
041 #7 - CÓDIGO DE IDIOMA
Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente en
Fuente del código ISO 639-1
080 ## - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL UNIVERSAL
Número de la Clasificación Decimal Universal 539.2
091 ## - LOCALIZACIÓN DE MICROFILM EN ESTANTERÍA (AM) [OBSOLETO]
Localización de microfilm en estantería 8522
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Auleytner, Julian
245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO
Título X-ray methods in the study of defects in single crystals.
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC.
Lugar de publicación, distribución, etc. OxfordPolish scientific publ. :
Nombre del editor, distribuidor, etc. Pergamon pressWarszawa,
Fecha de publicación, distribución, etc. 1967.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 264 p.
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Bibliografia: p. 255-259
580 ## - NOTA DE RELACIÓN COMPLEJA
Nota de relación compleja T+tulo original: Rentgenowskie metody badania mozaiki i dyslokacji
650 #4 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada ESTADO SOLIDO
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada DIFRACCION DE RAYOS X
Holdings
Estatus retirado Estado de pérdida Fuente de la clasificación o esquema de estantería Estado de daño No para préstamo Biblioteca de origen Biblioteca actual Fecha de adquisición Número de inventario Signatura topográfica completa Código de barras Visto por última vez Precio de reemplazo Tipo de ítem Koha
    Universal Decimal Classification     Centro de Información Eduardo Savino Centro de Información Eduardo Savino 20/02/2018 8522 539.2 Au51 8522 20/02/2018 20/02/2018 Books