Practical surface analysis: Auger and X-ray photoelectron spectroscopy. (Record no. 21022)
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| 000 -LEADER | |
|---|---|
| campo de control de longitud fija | 00522nam a2200169 a 4500 |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| campo de control de longitud fija | 170703s1990#### ||||f#|||||00| 0#uuu#d |
| 003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL | |
| campo de control | AR-SmCIES |
| 091 ## - LOCALIZACIÓN DE MICROFILM EN ESTANTERÍA (AM) [OBSOLETO] | |
| Localización de microfilm en estantería | 16 FAESA |
| 092 ## - ASIGNACIÓN LOCAL DE SIGNATURA TOPOGRÁFICA DEWEY (OCLC) | |
| Número de clasificación | v.1 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
| Nombre de persona | Briggs, D. |
| Término indicativo de función/relación | ed |
| 245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO | |
| Título | Practical surface analysis: Auger and X-ray photoelectron spectroscopy. |
| 260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. | |
| Lugar de publicación, distribución, etc. | ChichesterAarau : |
| Nombre del editor, distribuidor, etc. | WileySalle+Sauerlander, |
| Fecha de publicación, distribución, etc. | 1990. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | 657p. |
| 700 1# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL | |
| Nombre de persona | Seah, M.P. |
| Término indicativo de función/relación | colab |
| Estatus retirado | Estado de pérdida | Fuente de la clasificación o esquema de estantería | Estado de daño | No para préstamo | Biblioteca de origen | Biblioteca actual | Fecha de adquisición | Número de inventario | Signatura topográfica completa | Código de barras | Visto por última vez | Copia número | Precio de reemplazo | Tipo de ítem Koha |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Universal Decimal Classification | Centro de Información Eduardo Savino | Centro de Información Eduardo Savino | 20/02/2018 | 16 FAESA | 543.5 B6 | 16 FAESA | 20/02/2018 | v.1 | 20/02/2018 | Books |
