Fractography in failure analysis. (Record no. 20401)

MARC details
000 -LEADER
campo de control de longitud fija 00592nam a2200169 a 4500
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 170703s1978#### ||||f#|||||10| 0#uuu#d
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL
campo de control AR-SmCIES
091 ## - LOCALIZACIÓN DE MICROFILM EN ESTANTERÍA (AM) [OBSOLETO]
Localización de microfilm en estantería 1426 PAC
111 2# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE CONGRESO/REUNIÓN
Nombre de congreso/reunión o jurisdicción como elemento de entrada Symposium on fractography in failure analysis
Sede del congreso/Lugar de la reunión Toronto,CA
Fecha del congreso o de la firma del tratado 1977
245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO
Título Fractography in failure analysis.
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC.
Lugar de publicación, distribución, etc. [s.l.] :
Nombre del editor, distribuidor, etc. [s.n.],
Fecha de publicación, distribución, etc. 1978.
490 1# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie /ASTM-STP--645/
810 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE SERIE--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada ASTM^nAmerican society for testing and materials, Philadelphia^pUS
830 ## - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE SERIE-TÍTULO UNIFORME
Título uniforme /ASTM-STP--645/
Holdings
Estatus retirado Estado de pérdida Fuente de la clasificación o esquema de estantería Estado de daño No para préstamo Biblioteca de origen Biblioteca actual Fecha de adquisición Número de inventario Signatura topográfica completa Código de barras Visto por última vez Precio de reemplazo Tipo de ítem Koha
    Universal Decimal Classification     Centro de Información Eduardo Savino Centro de Información Eduardo Savino 20/02/2018 1426 PAC 539.42 Sy4 STP645 1426 PAC 20/02/2018 20/02/2018 Books