Fracture analysis by scanning electron microscopy. (Record no. 19950)

MARC details
000 -LEADER
campo de control de longitud fija 00526nam a2200157 a 4500
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 170703s1972####xxu||||f#|||||00| 0#eng#d
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL
campo de control AR-SmCIES
024 8# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código MCIC Report-72-12
041 #7 - CÓDIGO DE IDIOMA
Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente en
Fuente del código ISO 639-1
091 ## - LOCALIZACIÓN DE MICROFILM EN ESTANTERÍA (AM) [OBSOLETO]
Localización de microfilm en estantería 754 PMM
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona McCall, J. L.
245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO
Título Fracture analysis by scanning electron microscopy.
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC.
Lugar de publicación, distribución, etc. Columbus, Ohio :
Nombre del editor, distribuidor, etc. Metals and ceramics information center,
Fecha de publicación, distribución, etc. 1972.
Holdings
Estatus retirado Estado de pérdida Fuente de la clasificación o esquema de estantería Estado de daño No para préstamo Biblioteca de origen Biblioteca actual Fecha de adquisición Número de inventario Signatura topográfica completa Código de barras Visto por última vez Precio de reemplazo Tipo de ítem Koha
    Universal Decimal Classification     Centro de Información Eduardo Savino Centro de Información Eduardo Savino 20/02/2018 754 PMM 669: 539.42: 620.187 M1 754 PMM 20/02/2018 20/02/2018 Books