Introduction to analytical electron microscopy. (Record no. 19868)

MARC details
000 -LEADER
campo de control de longitud fija 01147nam a2200325 a 4500
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL
campo de control AR-SmCIES
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20221104161536.0
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 0306402807
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 170703s1979 --USad r E EN ENGEeng
040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN
Centro/agencia transcriptor AR-SmCIES
091 ## - LOCALIZACIÓN DE MICROFILM EN ESTANTERÍA (AM) [OBSOLETO]
Localización de microfilm en estantería 30196
245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO
Título Introduction to analytical electron microscopy.
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC.
Lugar de publicación, distribución, etc. New York:
Nombre del editor, distribuidor, etc. Plenum press,
Fecha de publicación, distribución, etc. 1979.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 601 p. :
Otros detalles físicos il. graf.;
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Bibliografía al final de cada
Nota general Contiene: Workshop on analytical electron microscopy. San Antonio, Tex., Aug. 13-14, 1979
650 #4 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada MICROSCOPIA ELECTRONICA
9 (RLIN) 3457
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada ELECTRON MICROPROBE ANALYSIS
Fuente del encabezamiento o término INIST
9 (RLIN) 4380
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada ANALISIS CON MICROSONDA ELECTRONICA
Fuente del encabezamiento o término INIST
9 (RLIN) 4381
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada MASS SPECTROSCOPY
9 (RLIN) 2853
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada ESPECTROMETRIA DE MASAS
Fuente del encabezamiento o término INIST
9 (RLIN) 1264
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada RADIATION DAMAGE
Fuente del encabezamiento o término INIST
9 (RLIN) 4382
700 10 - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL
Nombre de persona Hren, John
Término indicativo de función/relación Ed.
9 (RLIN) 4383
9 (RLIN) 3650
Nombre de persona Goldstein, Joseph.
Término indicativo de función/relación Ed.
9 (RLIN) 3655
Nombre de persona Joy, David C.
Término indicativo de función/relación Ed.
711 2# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE DE REUNIÓN
Nombre de congreso/reunión o jurisdicción como elemento de entrada Workshop on analytical electron microscopy
Sede del congreso/Lugar de la reunión San Antonio, Tex.,US
Fecha del congreso o de la firma del tratado 1979
9 (RLIN) 4384
942 ## - ELEMENTOS DE ENTRADA SECUNDARIOS (KOHA)
Fuente de la clasificación o esquema de estantería Universal Decimal Classification
Tipo de ítem Koha Books
Holdings
Estatus retirado Estado de pérdida Fuente de la clasificación o esquema de estantería Estado de daño No para préstamo Biblioteca de origen Biblioteca actual Fecha de adquisición Número de inventario Signatura topográfica completa Código de barras Visto por última vez Copia número Precio de reemplazo Tipo de ítem Koha
    Universal Decimal Classification     Centro de Información Eduardo Savino Centro de Información Eduardo Savino 20/02/2018 30196 537.533.35 H857 ej.2 30196 20/02/2018 2 20/02/2018 Books
    Universal Decimal Classification     Centro de Información Eduardo Savino Centro de Información Eduardo Savino 04/11/2022 27740 537.533.35 M857 27740 04/11/2022 1 04/11/2022 Books