Electron beam x-ray microanalysis. (Record no. 19853)

MARC details
000 -LEADER
campo de control de longitud fija 00649nam a2200181 a 4500
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 170703s1981####nyu||||f#|||||00| 0#eng#d
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL
campo de control AR-SmCIES
041 #7 - CÓDIGO DE IDIOMA
Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente en
Fuente del código ISO 639-1
091 ## - LOCALIZACIÓN DE MICROFILM EN ESTANTERÍA (AM) [OBSOLETO]
Localización de microfilm en estantería 1491 PMTM
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Heinrich, Kurt F. J.
245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO
Título Electron beam x-ray microanalysis.
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC.
Lugar de publicación, distribución, etc. New York :
Nombre del editor, distribuidor, etc. Van Nostrand,
Fecha de publicación, distribución, etc. 1981.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión xxiii, 578 p.
Holdings
Estatus retirado Estado de pérdida Fuente de la clasificación o esquema de estantería Estado de daño No para préstamo Biblioteca de origen Biblioteca actual Fecha de adquisición Número de inventario Signatura topográfica completa Código de barras Visto por última vez Precio de reemplazo Tipo de ítem Koha Copia número
    Universal Decimal Classification     Centro de Información Eduardo Savino Centro de Información Eduardo Savino 20/02/2018 1491 PMTM 620.187 H2 1491 PMTM 20/02/2018 20/02/2018 Books  
    Universal Decimal Classification     Centro de Información Eduardo Savino Centro de Información Eduardo Savino 20/02/2018 1493 PMTM 620.187 H2 1493 PMTM 20/02/2018 20/02/2018 Books ej.3
    Universal Decimal Classification     Centro de Información Eduardo Savino Centro de Información Eduardo Savino 20/02/2018 1492 PMTM 620.187 H2 1492 PMTM 20/02/2018 20/02/2018 Books ej.2