Practical scanning electron microscopy: (Record no. 19825)
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000 -LEADER | |
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campo de control de longitud fija | 01143nam a2200349 a 4500 |
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | AR-SmCIES |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
campo de control | 20221027150838.0 |
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | 170703s19771975n ado r e en eng |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO | |
Número Internacional Estándar del Libro | 0306308207 |
040 ## - FUENTE DE CATALOGACIÓN | |
Centro/agencia transcriptor | AR-SmCIES |
041 #7 - CÓDIGO DE IDIOMA | |
Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente | en |
Fuente del código | ISO 639-1 |
091 ## - LOCALIZACIÓN DE MICROFILM EN ESTANTERÍA (AM) [OBSOLETO] | |
Localización de microfilm en estantería | 28406 |
245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO | |
Título | Practical scanning electron microscopy: |
Resto del título | electron and ion microprobe analysis. |
250 ## - MENCION DE EDICION | |
Mención de edición | 3a ed. |
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. | |
Lugar de publicación, distribución, etc. | New York and London : |
Nombre del editor, distribuidor, etc. | Plenum press, |
Fecha de publicación, distribución, etc. | 1977. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | xxiii, 582 p. : |
Otros detalles físicos | il., graf., fot.; |
650 #4 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | MICROSCOPIA ELECTRONICA |
9 (RLIN) | 3457 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | ELECTRON BEAMS |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 3316 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | HACES ELECTRONICOS |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 3317 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | SCANNING ELECTRON |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 4314 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | X-RAY EMISSION ANALYSIS |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 4315 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | ANALISIS POR EMISION DE RAYOS X |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 4316 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | SONDAS ELECTRONICAS |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 4317 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | ELECTRON PROBES |
Fuente del encabezamiento o término | INIST |
9 (RLIN) | 4318 |
700 1# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL | |
Nombre de persona | Yakowitz, Harvey |
Término indicativo de función/relación | Ed. |
9 (RLIN) | 4319 |
Nombre de persona | Goldstein, Joseph. |
Término indicativo de función/relación | Ed. |
9 (RLIN) | 3650 |
Nombre de persona | Newbury, Dale E. |
9 (RLIN) | 3651 |
Nombre de persona | Lifshin, E. |
9 (RLIN) | 4320 |
Nombre de persona | Colby, J. W. |
9 (RLIN) | 4321 |
Nombre de persona | Coleman, J. R. |
9 (RLIN) | 4322 |
942 ## - ELEMENTOS DE ENTRADA SECUNDARIOS (KOHA) | |
Fuente de la clasificación o esquema de estantería | Universal Decimal Classification |
Tipo de ítem Koha | Books |
Estatus retirado | Estado de pérdida | Fuente de la clasificación o esquema de estantería | Estado de daño | No para préstamo | Biblioteca de origen | Biblioteca actual | Fecha de adquisición | Número de inventario | Signatura topográfica completa | Código de barras | Visto por última vez | Copia número | Precio de reemplazo | Tipo de ítem Koha |
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Universal Decimal Classification | Centro de Información Eduardo Savino | Centro de Información Eduardo Savino | 20/02/2018 | 28406 | 537.533.35 G578 ej.2 | 28406 | 20/02/2018 | 2 | 20/02/2018 | Books | ||||
Universal Decimal Classification | Centro de Información Eduardo Savino | Centro de Información Eduardo Savino | 27/10/2022 | 27739 | 537.533.35 G578 | 27739 | 27/10/2022 | 27/10/2022 | Books |