Interatomic potentials and simulation of lattice defects. (Record no. 19806)

MARC details
000 -LEADER
campo de control de longitud fija 00571nam a2200169 a 4500
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 170703s1972####nyu||||f#|||||00| 0#eng#d
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL
campo de control AR-SmCIES
041 #7 - CÓDIGO DE IDIOMA
Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente en
Fuente del código ISO 639-1
091 ## - LOCALIZACIÓN DE MICROFILM EN ESTANTERÍA (AM) [OBSOLETO]
Localización de microfilm en estantería 1400 PMM
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Gehlen, Pierre C.
Término indicativo de función/relación ed
245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO
Título Interatomic potentials and simulation of lattice defects.
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC.
Lugar de publicación, distribución, etc. New York-London :
Nombre del editor, distribuidor, etc. Plenum press,
Fecha de publicación, distribución, etc. 1972.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión xix, 782 p.
711 2# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE DE REUNIÓN
Nombre de congreso/reunión o jurisdicción como elemento de entrada Battelle institute materials science colloquia
Sede del congreso/Lugar de la reunión Seattle, Wash.,US
Fecha del congreso o de la firma del tratado 1971
Holdings
Estatus retirado Estado de pérdida Fuente de la clasificación o esquema de estantería Estado de daño No para préstamo Biblioteca de origen Biblioteca actual Fecha de adquisición Número de inventario Total de préstamos Total de renovaciones Signatura topográfica completa Código de barras Visto por última vez Fecha del último préstamo Precio de reemplazo Tipo de ítem Koha
    Universal Decimal Classification     Centro de Información Eduardo Savino Centro de Información Eduardo Savino 20/02/2018 1400 PMM 1 9 539.2 G2 1400 PMM 23/04/2018 23/04/2018 20/02/2018 Books