Stability analysis of iter plasmas with H-Mode profiles. (Record no. 18429)

MARC details
000 -LEADER
campo de control de longitud fija 00624nam a2200205 a 4500
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 170703s1994####ja ||||f#|||||00| 0#eng#d
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL
campo de control AR-SmCIES
024 8# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código JAERI-RESEARCH 94-030
041 #7 - CÓDIGO DE IDIOMA
Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente en
Fuente del código ISO 639-1
Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente ni
Fuente del código ISO 639-1
091 ## - LOCALIZACIÓN DE MICROFILM EN ESTANTERÍA (AM) [OBSOLETO]
Localización de microfilm en estantería 45315
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Tokuda, Shinji
245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO
Título Stability analysis of iter plasmas with H-Mode profiles.
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC.
Lugar de publicación, distribución, etc. Ibaraki-ken :
Nombre del editor, distribuidor, etc. JAERI,
Fecha de publicación, distribución, etc. 1994.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 13 p.
710 2# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada Japan Atomic Research Institute
700 1# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL
Nombre de persona Ozeki, Takahisa
Holdings
Estatus retirado Estado de pérdida Fuente de la clasificación o esquema de estantería Estado de daño No para préstamo Biblioteca de origen Biblioteca actual Fecha de adquisición Número de inventario Signatura topográfica completa Código de barras Visto por última vez Precio de reemplazo Tipo de ítem Koha
    Universal Decimal Classification     Centro de Información Eduardo Savino Centro de Información Eduardo Savino 20/02/2018 45315 JAERI-RESEARCH 94-030 45315 20/02/2018 20/02/2018 Books