Transverse photothermal examination of solide surfaces. (Record no. 17430)

MARC details
000 -LEADER
campo de control de longitud fija 00599nam a2200205 a 4500
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 170703s1993####gw ||||f#|||||00| 0#ger#d
003 - IDENTIFICADOR DE NÚMERO DE CONTROL
campo de control AR-SmCIES
024 8# - IDENTIFICADOR DE OTROS ESTÁNDARES
Número estándar o código KfK 5202
041 #7 - CÓDIGO DE IDIOMA
Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente de
Fuente del código ISO 639-1
091 ## - LOCALIZACIÓN DE MICROFILM EN ESTANTERÍA (AM) [OBSOLETO]
Localización de microfilm en estantería 39761
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Dübel, O.
245 10 - MENCIÓN DEL TÍTULO
Título Transverse photothermal examination of solide surfaces.
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC.
Lugar de publicación, distribución, etc. Karlsruhe :
Nombre del editor, distribuidor, etc. Kernforschungszentrum KarlsruheGmbH,
Fecha de publicación, distribución, etc. 1993.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 62 p.
710 2# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada Kernforschungszentrum Karlsruhe
700 1# - ENTRADA AGREGADA--NOMBRE PERSONAL
Nombre de persona Faubel, W.
Nombre de persona Ache, H.J.
Holdings
Estatus retirado Estado de pérdida Fuente de la clasificación o esquema de estantería Estado de daño No para préstamo Biblioteca de origen Biblioteca actual Fecha de adquisición Número de inventario Signatura topográfica completa Código de barras Visto por última vez Precio de reemplazo Tipo de ítem Koha
    Universal Decimal Classification     Centro de Información Eduardo Savino Centro de Información Eduardo Savino 20/02/2018 39761 KfK 5202 39761 20/02/2018 20/02/2018 Books