Thin film materials : stress, defect formation and surface evolution.
Freund, L. Ben
Thin film materials : stress, defect formation and surface evolution. - New York : Cambridge University press, 2003. - xviii, 750 p. : il., tabla, diagr.
Notas de pie de página Ejercicios al final de cada capítulo Bibliografía: p.713-737
9780521529778 9780521822817
PELICULAS DELGADAS [FISICA]
SEMICONDUCTORES -DISPOSITIVOS
Thin film materials : stress, defect formation and surface evolution. - New York : Cambridge University press, 2003. - xviii, 750 p. : il., tabla, diagr.
Notas de pie de página Ejercicios al final de cada capítulo Bibliografía: p.713-737
9780521529778 9780521822817
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